CrystalDiffract 6: Phân tích nhiễu xạ tinh thể hiệu quả

Mục Lục Nội Dung

CrystalDiffract

CrystalDiffract đưa thế giới nhiễu xạ tia X và neutron vào máy tính của bạn, cho phép bạn dễ dàng kiểm soát và phân tích dữ liệu thực nghiệm.

Phần mềm này có khả năng đọc các tệp tinh thể đã lưu để mô phỏng mẫu nhiễu xạ tia X hoặc bột neutron ngay trên màn hình, đi kèm các công cụ đo lường và điều chỉnh tiện lợi. Bộ điều khiển thông số thời gian thực cho phép bạn thử nghiệm nhanh chóng với các cài đặt và mẫu nhiễu xạ khác nhau, nhận phản hồi tức thì. Khi kết hợp với tính năng tạo hỗn hợp tức thời và khả năng tải dữ liệu quan sát trong cùng một cửa sổ, CrystalDiffract trở thành một ứng dụng mạnh mẽ dành cho các nhà nghiên cứu, giáo viên và sinh viên.

CrystalDiffract còn vượt trội hơn các phương pháp nhiễu xạ tia X truyền thống trong phòng thí nghiệm, nhờ khả năng mô phỏng nhiễu xạ từ các nguồn synchrotron tia X hiện đại (nhiễu xạ tán sắc năng lượng bức xạ trắng) và nguồn neutron xung phân giải cực cao (nhiễu xạ bay thời gian).

Các kỹ thuật đo nhiễu xạ phòng thí nghiệm truyền thống cũng được hỗ trợ, với kết quả hiển thị dưới dạng ‘dấu vết’ (trace) của máy đo hoặc một hình ảnh nhiễu xạ mô phỏng.

Tính năng CrystalDiffract

Khả năng mô phỏng mẫu nhiễu xạ từ hỗn hợp nhiều pha. Người dùng có thể dễ dàng thêm các pha mới vào hỗn hợp bằng cách kéo và thả tệp vào cửa sổ nhiễu xạ, sau đó nhấn nút “Trộn” trên Thanh công cụ.
Hỗ trợ số lượng thành phần không giới hạn, điều chỉnh tỷ lệ pha theo thời gian thực và bật/tắt các pha qua hộp kiểm trong Danh sách kết cấu. Cho phép chuyển đổi linh hoạt giữa việc hiển thị các mẫu nhiễu xạ riêng lẻ (có thể xếp chồng để dễ so sánh) và chế độ hiển thị hỗn hợp.
Cho phép nhập nhiều bộ dữ liệu thử nghiệm (định dạng xy) để so sánh trực tiếp với dữ liệu mô phỏng, chỉ cần kéo và thả tệp văn bản vào cửa sổ nhiễu xạ.
Kiểm tra dữ liệu thử nghiệm để phát hiện tạp chất, bất thường hoặc xác định pha chưa biết bằng cách kết hợp dữ liệu quan sát và tính toán. Danh sách Cấu trúc hỗ trợ quét nhanh các pha lý tưởng so với dữ liệu quan sát.
Sau khi đặc trưng dữ liệu quan sát, người dùng có thể áp dụng các hiệu chỉnh sai số và sai lệch, đồng thời hiển thị đồ thị/hình ảnh phần dư cùng phép tính tổng bình phương.
Cung cấp khả năng tùy chỉnh biểu đồ mạnh mẽ: chọn mẫu, kiểu biểu đồ, xác định phạm vi chính xác hoặc tìm kiếm đỉnh. Hỗ trợ điều chỉnh tỷ lệ trục X/Y, phóng to và tự động chia tỷ lệ. Người dùng cũng có thể sắp xếp thứ tự hiển thị các mẫu nhiễu xạ và tự động xếp chồng/thu gọn chúng.
Hỗ trợ in ấn chất lượng cao, điều chỉnh cấu hình nhiễu xạ mô phỏng phù hợp với độ phân giải máy in. Ngoài ra, có thể xuất dấu vết nhiễu xạ dưới dạng tệp văn bản (định dạng xy) với độ phân giải trục X đã chọn.
Lưu trữ công việc dưới dạng tệp ‘phiên’ độc lập để truy cập nhanh chóng. Cho phép xuất dữ liệu cấu trúc, danh sách nhiễu xạ tùy chỉnh, yếu tố cấu trúc hoặc cấu hình nhiễu xạ (cho mục đích vẽ biểu đồ).